Tegyük fel, hogy adott egy kutató, aki egy pályázaton alapuló kutatás során létrehozott egy műszert, ami nem csak a különféle sugárzások mérésére képes, hanem egyedi formája révén úgy néz ki, mint egy dísztárgy. Ráadásul az elmúlt 2 évben mért adatok minősége és mennyisége indokolná egy adatbázis létrehozását is, amit aztán egy szoftver segítségével elemezve, hihetetlenül izgalmas és értékes eredményeket mutathat fel. Mit tehet ilyen esetben? Melyik oltalmi formát válassza? Egyáltalán … mik közül választhat? Az előadás során bemutatjuk a szerzői jog és az iparjogvédelem oltalmi köreit, hogy könnyebb legyen a döntés.

A BME Felsőoktatási és Ipari Együttműködési Központ szervezésében megvalósuló hat alkalmas FIEK Iparjogvédelmi képzés rövid áttekintést nyújt a szellemitulajdon-védelem rendszeréről, ezen belül az iparjogvédelmi oltalmi formákról, az oltalom megszerzésére irányuló eljárásokról és ezek alkalmazhatóságáról, a legfontosabb iparjogvédelmi információforrásokról. A képzés során a szakemberek gyakorlati példákon keresztül is bemutatják az oltalmak gazdasági szerepét. A képzésen történő részvétel ingyenes!

Az oktatást a FIEK iparjogvédelmi és üzletfejlesztési szakemberei magyar nyelven tartják, akik az oltalmi és eljárási jellegzetességek mellett a bevezetés szintjén rámutatnak az iparjogvédelmi oltalmak ipari alkalmazhatóságára is.

A képzés hibrid formában valósul meg, személyes jelenléttel a Z ép. 9. emeleti Tantermében várják a kutatókat. Online, belső egyetemi VPN hozzáféréssel itt lehet csatlakozni: Kattintson ide az értekezlethez való csatlakozáshoz

A képzés során az iparjogvédelmi szakemberek többek között a következő kérdéseket tisztázzák:

• Miben tud a FIEK BRIDGE szervezete segíteni a BME-s kutatóknak?
• Miket kell számba venni a kutatóknak, mire kell gondolniuk,
• ha van egy találmányuk, ötletük?
• Milyen előzetes lépések vannak, amiket meg kell tenni
• egy találmány kapcsán?
• Milyen oltalmi formák léteznek?
• Melyik oltalmi formát mikor érdemes választani?